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在真空環(huán)境下對高速等離子體鍍層過(guò)程反射率的實(shí)時(shí)監測是光譜學(xué)測量的一項應用。
Avantes對在真空環(huán)境下測量有著(zhù)豐富的經(jīng)驗,并提供各種儀器和配件以滿(mǎn)足真空光譜學(xué)的需要。這些技術(shù)經(jīng)常用于點(diǎn)檢測等復雜的過(guò)程控制監控??梢詫σ粋€(gè)峰值或一定的波長(cháng)范圍進(jìn)行監測,以檢測出一個(gè)在過(guò)程結束時(shí)光譜偏移帶來(lái)的拐點(diǎn)。在進(jìn)行高真空(~10-3 torr)和超高真空(~10−9 torr)測量時(shí),需要特別注意所選用的光譜儀和光纖。Avantes對在真空環(huán)境下測量有著(zhù)豐富的經(jīng)驗,并提供各種儀器和配件以滿(mǎn)足真空光譜學(xué)的需要。