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等離子體光譜儀誤差的區分及其產(chǎn)生原因
等離子體光譜儀采用原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理，樣品經(jīng)過(guò)電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜，發(fā)射光譜經(jīng)光導纖維進(jìn)入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據每個(gè)元素發(fā)射波長(cháng)范圍，通過(guò)光電管測量每個(gè)元素的譜線(xiàn)，每種元素發(fā)射光譜譜線(xiàn)強度正比于樣品中該元素含量，通過(guò)內部預制校正曲線(xiàn)可以測定含量，直接以百分比濃度顯示。
系統誤差是指在一定試驗條件下由某個(gè)或某些因素按照某一確定的規律起作用而形成的誤差。它決定了測試結果的度，系統誤差的大小和符號在同一試驗中是恒定的，改變試驗條件時(shí)按照確定的規律變化。重復測定不能發(fā)現和減少系統誤差，只有改變試驗條件才能發(fā)現系統誤差。測定結果與真實(shí)值偏離的程度越小，測定結果越正確，系統誤差就越小。一旦發(fā)現有系統誤差，一定要找出原因，設法避免和校正。
隨機誤差是具有隨機性的誤差，出現這種現象是一系列偶然因素（如測定環(huán)境的溫度、濕度、振動(dòng)、灰塵、油污、老化和儀器性能等）微小隨機波動(dòng)造成的。如果對樣品只進(jìn)行一次測定，其測定值可能比真值大也可能比真值小。它的出現決定了測定結果的精密度。隨機誤差是一種無(wú)規律性的誤差，在分析過(guò)程中總是存在的。其性質(zhì)是有時(shí)大，有時(shí)小，有時(shí)正，有時(shí)負，而產(chǎn)生的原因又無(wú)法控制。所以只有通過(guò)多次測量并取平均值，才可以減小隨機誤差。
等離子體光譜儀是原子光譜的一種，有關(guān)原子光譜的種類(lèi)參見(jiàn)第1章節有關(guān)內容。等離子體光譜儀是處于激發(fā)態(tài)的待測元素原子回到基態(tài)時(shí)發(fā)射的譜線(xiàn)等離子體光譜法包括2個(gè)主要的過(guò)程，即：激發(fā)過(guò)程和發(fā)射過(guò)程。
(1)激發(fā)過(guò)程由光源提供能量使樣品蒸發(fā)、形成氣態(tài)原子、并進(jìn)一步使氣態(tài)原子激發(fā)至高能態(tài)。原子發(fā)射光譜中常用的光源有火焰、電弧、等離子炬等，其作用是使待測物質(zhì)轉化為氣態(tài)原子，氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)過(guò)程獲得能量，變?yōu)榧ぐl(fā)態(tài)(高能態(tài))原子。
(2)發(fā)射過(guò)程處于激發(fā)態(tài)(高能態(tài))的原子十分不穩定，在很短時(shí)間內回到基態(tài)(低能態(tài))。當從激發(fā)態(tài)過(guò)渡到低能態(tài)或基態(tài)時(shí)產(chǎn)生特征發(fā)射光譜即為原子發(fā)射光譜。一由于發(fā)射光譜與光源連續光譜混合在一起，且原子發(fā)射光譜本身也十分豐富，必須將光源發(fā)出的復合光經(jīng)單色器分解成按波長(cháng)順序排列的譜線(xiàn)，形成可被檢測器檢測的光譜，儀器用檢測器檢測光譜中譜線(xiàn)的波長(cháng)和強度。