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光譜測量之探測器的選擇要點(diǎn)
光譜測量可廣泛應用于許多不同的領(lǐng)域，如顏色測量、半導體領(lǐng)域里的測量、化學(xué)成分的濃度測量等。光譜測量的核心是物質(zhì)輻射或散射、透射或反射的光攜帶了該物質(zhì)的屬性和條件的信息，如化學(xué)和物理成份等參數。
探測器是選擇合適測量光譜系統的關(guān)鍵。在確定了需要測量的波長(cháng)范圍后，根據實(shí)驗的測試速度和精度要求，選擇合適的探測器。目前市場(chǎng)上常見(jiàn)的光譜儀探測器為CCD探測器、CMOS探測器和InGaAs探測器。
CCD探測器分為背照式和前照式；對于在紫外區（200-350 nm）和近紅外區（900-1160 nm）既需要高量子效率又需要高信噪比和較大動(dòng)態(tài)范圍的應用，背照式CCD探測器是不錯的選擇，但是價(jià)格相對前照式較高。
CMOS探測器測試速度快，可以在更短時(shí)間內獲取光譜，觸發(fā)延遲性能好并且在紫外波段靈敏度高，如果關(guān)注這些要點(diǎn)推薦選擇CMOS探測器的光譜儀。
InGaAs探測器在近紅外區域有著(zhù)*的靈敏度。InGaAs探測器的動(dòng)態(tài)范圍受暗噪聲限制。對于1750 nm以下的測量，探測器無(wú)需制冷；對于需要擴展至2000-2500 nm波長(cháng)范圍的應用，需要采用二級制冷的探測器來(lái)降低暗噪聲。
除此之外，分辨率、靈敏度、雜散光、二級衍射效應、通信接口等也是非常重要的參數。